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成端過程中產(chǎn)生的大衰耗點(diǎn)在光纜成端過程中，也經(jīng)常會產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)。在成端時(shí)，由于一般不進(jìn)行熔接損耗監(jiān)測，僅憑經(jīng)驗(yàn)操作，因此，產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)的幾率也大增。此外，在光纖熔接后安裝收容盤時(shí)，往往造成收容盤附近的光纖束管彎曲半徑過小或造成光纖束管擰轉(zhuǎn)變形，使光纖在此處產(chǎn)生一個(gè)較大的衰耗點(diǎn)，此類大衰耗點(diǎn)一般比較隱蔽，不像線路中間的大衰耗點(diǎn)用OTDR可以直接測出。光纜大衰耗點(diǎn)的查找定位和處理一般產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)的位置光纜接續(xù)完成后，我們一般要對整個(gè)中繼段用OTDR進(jìn)行測試，通過測試，可以檢驗(yàn)接續(xù)完的光纜中繼段的光特性是否符合施工規(guī)范和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求，主要從以下幾個(gè)方面進(jìn)行考核:中繼段全程總衰耗是否小于設(shè)計(jì)規(guī)定（也就是平均衰耗系數(shù)是否小于設(shè)計(jì)規(guī)定值）；中繼段接頭雙向平均衰耗值是否小于驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)要求；中繼段后向散射曲線是否斜率均勻，曲線平滑，除正常的接頭衰耗點(diǎn)的小臺階外，曲線上應(yīng)無大衰耗臺階。利用OTDR進(jìn)行光中繼段測試和人衰耗點(diǎn)定位時(shí)，首先應(yīng)正確地設(shè)置儀表的測試參數(shù)，諸如測試量程、測試波長、脈沖寬度、折射率和平均化處理時(shí)間等。
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和抗扭曲性能都有明顯增強(qiáng)3.成纜的附加損耗不良的成纜工藝，把光纖制成光纜后，會帶來附加損耗，(比如說不良應(yīng)力造成微彎)稱之為成纜損耗光纜的典型結(jié)構(gòu)光纜的典型結(jié)構(gòu)光纜的基本結(jié)構(gòu)按纜芯組件的不同一般可以分為層絞式、骨架式、束管式和帶狀式四種。我國及歐亞各國用的較多的是傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的層絞式和骨架式兩種。層絞式層絞式光纜的結(jié)構(gòu)類似于傳統(tǒng)的電纜結(jié)構(gòu)方式，故又稱為古典式光纜。骨架式骨架式光纜中的光纖置放于塑料骨架的槽中，槽的橫截面可以是V形、U形或其他合理的形狀，槽的縱向呈螺旋形或正弦形，一個(gè)空槽可放置510根一次涂覆光纖。束管式束管式結(jié)構(gòu)的光纜近年來得到了較快的發(fā)展。它相當(dāng)于把松套管擴(kuò)大為整個(gè)纜芯，成為一個(gè)管腔，將光纖集中松放在其中。帶狀式帶狀式結(jié)構(gòu)的光纜首先將一次涂覆的光纖放入塑料帶內(nèi)做成光纖帶，然后將幾層光纖帶疊放在一起光纜的種類與型號光纜的種類與型號1.光纜的種類光纜的種類光
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光纖是用光導(dǎo)纖維作為信息傳輸介質(zhì)，傳輸信息時(shí)先把電信號轉(zhuǎn)換成光信號，接收后再把光信號轉(zhuǎn)換成電信號。光纖的制作材料為由能傳送光波的超細(xì)玻璃纖維，外包一層比玻璃折射率低的材料。進(jìn)入光纖的光波在兩種材料的界面上形成全反射，從而不斷地向前傳播。
光纖通信的優(yōu)點(diǎn)通信容量大光纖重量輕、體積小光通信發(fā)展簡史2000多年前1966年“光纖之父”高錕博士首次提出光纖通信的想法。1970年貝爾研究所林嚴(yán)雄在室溫下可連續(xù)工作的半導(dǎo)體激光器。1970年康寧公司的卡普隆(Kapron)之作出損耗為20dB/km光纖。1977年芝加哥條45Mb/s的商用線路。通信波段劃分及相應(yīng)傳輸媒介光的折射/反射和全反射因光在不同物質(zhì)中的傳播速度是不同的，所以光從一種物質(zhì)射向另一種物質(zhì)時(shí)，在兩種物質(zhì)的交界面處會產(chǎn)生折射和反射。而且，折射光的角度會隨入射光的角度變化而變化。當(dāng)入射光的角度達(dá)到或超過某一角度時(shí)，折射光會消失，入射光被反射回來，這就是光的全反射。不同的物質(zhì)對相同波長光的折射角度是不同的（即不同的物質(zhì)有不同的光折射率），相同的物質(zhì)對不同波長光的折射角度也是不同。光纖通訊就是基于以上原理而形成的。